摘要:目的:观察皮层神经元缺糖氧复氧后氧化-抗氧化分子的变化,并探讨其对凋亡的影响-方法:建立体外培养皮层神经元缺糖氧复氧损伤模型,实验分为正常对照组,缺糖氧复氧不同时间组(3-6-12及24 h组),检测各组细胞上清液乳酸脱氢酶(LDH)-一氧化氮(NO)含量及一氧化氮合酶(NOS)活性;观察神经元谷胱甘肽(GSH)含量及谷胱甘肽过氧化物酶(GPx)活性变化;Hochest33258核染色观察皮层神经元凋亡情况-结果:与正常对照组相比,缺糖氧复氧后神经元LDH释放量及NO含量明显增多-GPx活性持续下降(P < 0.05);于缺糖氧复氧3 h及6 h时,NOS活性增高-GSH含量减少(P < 0.05),而于24 h时二者变化无显著差异(P > 0.05);神经元于缺糖氧复氧3 h时出现凋亡,且随复氧时间的延长,凋亡持续增多(P < 0.05)-结论:随着缺糖氧复氧时间的持续,氧化及抗氧化平衡的破坏,可能是致体外培养皮层神经元凋亡的原因之一-