摘要:目的:评价DPP- Ⅳ抑制剂类口服降糖药A化合物的线粒体毒性,从而探讨A化合物的可能毒性机制。方法:HepG2细胞培养基中分别加入曲格列酮50~300 μmol/L,培养24 h,或加入A化合物溶液100~300 μmol/L,培养24 h,CCK8细胞计数法测定细胞存活率。HepG2细胞培养基中分别加入曲格列酮100-200和225 μmol/L培养24 h,或加入A化合物溶液100-150和200 μmol/L培养24 h,化学发光法检测胞内ATP合成水平,荧光探针法检测胞内钙离子浓度-活性氧-线粒体膜电位(-驻Ψm)变化,透射电镜观察线粒体超微结构。结果:与溶媒对照组相比,曲格列酮50~300 μmol/L可以抑制细胞存活率,IC50为178 μmol/L;A化合物 100~300 μmol/L对细胞存活率有抑制作用,IC50为159 μmol/L。与溶媒对照组相比,曲格列酮≥200 μmol/L时导致线粒体ATP显著下降(P<0.01)--驻Ψm显著性下降(P < 0.01),≥100 μmol/L时可致活性氧水平和钙离子浓度显著升高(P < 0.05或P < 0.01)。A化合物≥100 μmol/L时ATP合成水平显著降低-钙离子浓度显著升高(P < 0.01),≥150 μmol/L时活性氧水平明显升高(P < 0.01),≥200 μmol/L时-驻Ψm显著性下降(P < 0.05),并可导致线粒体结构发生病变。结论:DPP- Ⅳ抑制剂类口服降糖药A化合物可以通过干扰线粒体代谢功能和结构而诱导线粒体损伤。